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电子系统抗干扰性能测试选用的测试仪

方案简介

射频场强测试仪信号发生器:可产生各种频率和幅度的射频信号,与功率放大器配合使用,能够在测试区域内产生特定强度的射频电磁场,用于测试电子系统在射频场强干扰下的性能

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发布时间:2025-01-12
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射频场强测试仪



信号发生器:可产生各种频率和幅度的射频信号,与功率放大器配合使用,能够在测试区域内产生特定强度的射频电磁场,用于测试电子系统在射频场强干扰下的性能。如 1433 系列信号发生器,频率覆盖范围宽,具备多种调制功能,可满足不同频段和调制方式的测试需求。

场强探头:用于测量测试区域内的射频场强大小和分布情况,与频谱分析仪或场强仪配套使用,以确定电子系统所处的实际干扰场强环境。例如,各向同性场强探头可在三维空间内准确测量射频场强,测量范围通常从几 V/m 到几十 V/m 甚至更高。

电源质量分析仪



谐波分析仪:用于测量电子系统电源输入中的谐波含量,评估电源中的谐波干扰对电子系统的影响。如 FLUKE 435 系列 Ⅱ 型电能质量和能量分析仪,可精确测量电压、电流的谐波失真度,帮助用户了解电源中的谐波成分及其对系统的潜在干扰。

电压暂降、短时中断和电压变化测试仪:可以模拟电网中的电压暂降、短时中断和电压变化等现象,测试电子系统在这些电源质量问题下的抗干扰能力和稳定性。如 Chroma 61800 系列可编程交流电源供应器,具备电压暂降、短时中断等测试功能,可设置不同的电压变化幅度、持续时间和变化次数等参数。



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